JSM-6460性能：二次电子分辨率：优于3nm；放大倍率：x5 ~ x300,000；成像模式：二次电子像(SEI)，背散射像(BEI)；可观察试样最大高度：80nm；可观察试样最大宽度：203mm。     能谱仪、波谱仪性能：元素分析范围：EDS Be4-U92，WDS B5-U92；分析功能：微区元素定性、定量分析，元素分布分析(线扫描、面扫描)、痕量元素分析、轻元素分析；特征：能谱、波谱同时联合分析，既快速，又有高分辨率。     EBSD性能：晶粒取向分析及取向分布分析；晶界错配度分析；微区织构分析(极图、反极图)。

单位地址：西安市未央路96号综合实验楼 邮政编码：710016 联系电话：(029)86281815 传　　真：(029)86231103

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