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  科研机构->材料分析中心->研究方向
 
    JSM-6700性能:二次电子分辨率:优于1nm;放大倍率:x25 ~ x650,000;成像模式:二次电子像(SEI)、背散射像(BEI);可观察样品最大高度:10mm。
    能谱仪性能:元素分析范围:Be4 - U92;分析功能:微区元素定性、定量分析、元素分布分析(线扫描、面扫描)。

单位地址:西安市未央路96号综合实验楼 邮政编码:710016
联系电话:(029)86281815 传  真:(029)86231103
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